x熒光光譜儀的測(cè)試步驟介紹
更新時(shí)間：2022-08-09瀏覽：2304次
X熒光光譜儀是一種較新型可以對(duì)多元素進(jìn)行快速同時(shí)測(cè)定的儀器。在X射線激發(fā)下，被測(cè)元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級(jí)躍遷而發(fā)出次級(jí)X射線。波長(zhǎng)和能量是從不同的角度來(lái)觀察描述X射線所采用的兩個(gè)物理量。
x熒光光譜儀在陽(yáng)光直射的高溫，高日照量的情況下也能保持高性能的特點(diǎn)，這得益于儀器設(shè)計(jì)中充分考慮低功耗及X射線管高溫的及時(shí)排放，所以它可承受惡劣的工作環(huán)境。X熒光光譜儀的測(cè)試步驟：
（1）選擇分析方法與制樣方法。分析方法一般有基本參數(shù)法、半基本參數(shù)法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法等，制樣方法一般有拋光法、壓片法、濾紙片法和熔片法，常用粉末壓片法制樣，采用基本參數(shù)法測(cè)試。
（2）將制備好的樣片裝進(jìn)樣品杯，放入樣品交換器中，自動(dòng)進(jìn)樣至樣品室，X射線管發(fā)出原級(jí)X射線照射樣品，激發(fā)出待測(cè)元素的熒光X射線。
（3）樣品輻射出的熒光X射線通過(guò)分光晶體，將X射線熒光光譜色散成孤立的單色分析線，由探測(cè)器測(cè)量各譜線的強(qiáng)度，根據(jù)選用的分析方法換算成元素濃度，得到樣品中待測(cè)元素含量。
（4）生產(chǎn)廠家建議定期清理空氣濾網(wǎng)，避免積灰，保持良好的散熱效果
（5）定期邀請(qǐng)廠家安排專(zhuān)門(mén)的工程師上門(mén)進(jìn)行年檢，排除問(wèn)題隱患
還需要特別注意的一點(diǎn)就是，切勿因好奇心理去觸碰檢測(cè)器鈹窗，以免破壞核心部件。
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